序号

仪器名称

技术参数

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紫外可见分光光度计

1 工作环境 1.1使用温度范围：15 ℃ to 35 ℃ 1.2 使用湿度范围：30% to 80% 2 技术规格 2.1 分光系统 2.1.1 光学系统: 双光束 2.1.2 分光器: 单单色器，象差校正型切尼尔一特纳装置 2.1.3 测试波长范围: 190-900 nm 2.1.4 衍射光栅刻线数:≥1300 lines/mm ★2.1.5 波长准确性: ±0.1nm（656.1nm）， ±0.3nm（全波段） ★2.1.6 波长重复精度: ≤0.2nm ★2.1.7 波长扫描速度: 最大扫描速度：≥4000nm/min; 2.1.8 波长设定: 扫描开始波长和扫描结束能够以1nm单位设置；其它为0.1nm单位 2.1.9 光源切换波长: 和波长同步自动切换290.0 nm~370.0 nm 2.1.10 谱带宽度: 0.1/0.2/ 0.5/1/2/5nm L2/L5（低杂散光模式） ▲2.1.11 分辨率: 0.1nm ▲2.1.12 杂散光: KCI < 1%T （198nm） NaI < 0.005%T（220nm) NaNO2 < 0.005%T（340nm) 2.1.13 测光方式: 双光束测光方式 2.1.14 测光类型: 吸光度（Abs），透射率（%），反射率（%），能量（E） 2.1.15 测光范围: 吸光度：-5~5 Abs 2.1.16 光度准确性 ±0.002Abs(0-0.5Abs) ±0.003Abs(0.5-1Abs) ±0.006Abs(1.0-2.0Abs) ±0.3%T 2.1.17光度重现性 ±0.001Abs(0.5Abs) ±0.001Abs(1Abs) ±0.003Abs(2Abs) ±0.1%T 2.1.18 噪音 ≤0.0004Abs (500nm) ▲2.1.19基线稳定性 < 0.0002Abs/hour ▲2.1.20基线平直度 ±0.0003Abs(200-860nm) 2.1.21 记录范围: 吸光度-10~10 Abs; 透射率±10^12% 2.1.22 漂移：小于0.0002Abs/h 2.1.23基线校正：计算机自动校正（电源启动时，自动存储备份的基线，可以再校正） 2.2光源： 50W卤素灯和氘灯（插座型） 2.3 检测器：光电倍增管 2.4 软件：可执行自动光谱评价，实时导出Excel数据。 2.5积分球： 2.5.1积分球直径：≥58mm 2.5.2积分球内壁涂层：硫酸钡 2.5.3测试项目：支持全反射率、漫反射率、透过率、吸光度 2.5.4测定波长220-1400nm 3.单台设备供货范围： 3.1紫外分光光度计1台 3.2测试专用软件 1套 3.3 10mm方形石英比色皿 1对 3.4积分球和粉末样品支架 1套 3.5控制系统 1套：CPU：i5以上；内存≥16G；硬盘≥1T(固态)；显示器≥24寸 纸质输出系统 1套

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X射线衍射仪

1、主要用途：主要应用于样品的物相定性或定量分析、晶体结构分析、材料的结构分析、宏观应力或微观应力的测定、晶体大小测定、结晶大小测定、结晶度测定等。 2、适用标准 2.1 GB 4793.1《测量、控制和实验室用电气设备的安全要求 第1部分：通用要求》 GB/T 11606 《分析仪器环境试验方法》 GB/T 12519 《分析仪器通用技术条件》 GBZ115-2002 《X射线衍射仪和荧光分析仪防护标准》 JB/T9400-2010 《X射线衍射仪 技术条件》 JJG 629-2014 《多晶X射线衍射仪检定规程》。 3、技术要求 3.1 X射线衍射仪： 3.1.1 固态高频高压发生器： 3.1.1.1 高压发生器最大输出功率：≥3.0 kW。 3.1.1.2 高压发生器最大管电压：≥60 kV。 3.1.1.3 高压发生器最大管电流：≥50 mA。 3.1.2 X射线衍射仪光管： 3.1.2.1 光管靶材：Cu靶。 3.1.2.2 光管最大功率：≥2.2 kW。 3.1.2.3 光管最大电压：≥60 kV。 3.1.2.4 光管最大电流：≥50 mA。 3.1.3 测角仪： ▲3.1.3.1 测角仪类型：立式，扫描方式θ/θ型，采取增量式光码盘技术设计，光学数字编码可以直接从双臂上读出角度；保证测角仪的精度和稳定性。供应商须在投标时提供证明材料 ▲3.1.3.2 测角仪最小可控步长：≤0.0001°。 3.1.3.3 测角仪半径：≥225 mm。 ▲3.1.3.4 最大角分辨率：≤0.028°，通过NIST SRM 660c硼化镧LaB6粉末衍射峰的半峰宽验证，供应商须在投标时提供证明材料 ★3.1.3.5 2θ测量范围：-110°～165° 3.1.3.6扫描方式：连续、步进。 3.1.3.7角度重现性：≤0.0001° ▲3.1.3.8全谱测角准确±0.005° 3.1.3.9重复性误差±0.0001° 3.1.4最高定位速度：≤1500°/min。 3.1.5 探测器： ★3.1.5.1具有光子计数二维面阵探测器，可实现0D、1D、2D功能 能谱分辨率：＜25%（CuKα谱线） 3.1.5.2 加弯晶石墨单色器反射效率＞28%。 3.1.5.3 最大线性计数率：＞3×106cps。 3.1.6 样品台： 3.1.6.1 标准粉末样品台：具备常规粉末样品检测能力，附带不少于20个原装载样片。 ▲3.1.7衍射角线性度：全谱范围内所有峰的角度偏差≤0.02°，通过NIST SRM 640标准硅全谱范围内的峰角度偏差验证，供应商须在投标时提供证明材料。 3.1.8 安全防护： ★3.1.8.1安全联锁机制：防护门未关闭到位不能启动光管，启动光管时无法打开防护门。在距离防护装置外表面100 mm处测得的最大射线泄漏剂量小于0.2[μSv/h]。 3.2数据库及软件： 3.2.1 提供最新版本免费数据库；主流操作系统下运行的仪器控制及数据处理软件。 物相定性、定量分析、Kα1、Kα2剥离、全谱图拟合、选峰拟合、半高宽和晶粒尺寸计算、晶胞测定、二类应力计算、衍射线条指标化、多重绘图、3D绘图、衍射数据校准、背景扣除、无标样定量分析等功能、全谱图拟合（WPF）、XRD衍射谱图模拟。 5.单台设备供货范围： 5.1 X射线衍射仪1套 5.2 不间断电源 5.2.1 额定容量：≥10 kVA。 5.2.2 系统效率：≥90%。 5.2.3 输出电压：220 V±0.5%。 5.2.4 输出频率：50 Hz±0.5%。 5.2.5 噪声：＜60 dB。 5.3仪器控制系统：CPU：i5以上；内存≥16G；硬盘≥1T(固态)；显示器≥24寸 1套 纸质输出系统 1套 5.4 系统控制及数据采集分析软件 1套

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化学吸附仪

1、主要用途 该仪器用于催化剂吸附特性（化学反应）的分析研究，全自动执行程序升温还原(TPR)、程序升温氧化(TPO)、程序升温脱附(TPD)、程序升温反应(TPx)、脉冲化学滴定、脉冲校准、动态BET测试分析 2、进气系统 2.1至少具备10路气体进气口，分别是4路载气，4路处理气，2路混气； ▲2.2仪器内部管线采用空气浴加热，一体式整体箱体加热保温设计，最高温度150℃，确保仪器不锈钢管线、阀门和TCD检测器无“冷点”； ★2.3配备3个原装高精度质量流量计MFCs控制流量，流量范围5-100SCCM，精度+/-1% FS.; ▲2.4仪器具备在线混气功能，内置混气罐体积70~75ml，可根据实验要求配制不同浓度气体; ▲2.5 ≤1/16英寸的316SS不锈钢管路，仪器必须配备不少于3个自动气动六通阀，电脑自动控制气路转换，阀门区域可在不小于150℃范围具有保温与控温功能； ▲2.6 配置脉冲LOOP环，厂家可提供≥13种LOOP环供用户选择配置，标准配置50uL1个； 2.7 管路密封：采用全氟醚防腐蚀橡胶密封圈，长期耐温可在250℃至320℃； 2.8 各气路均装配气体单向阀，确保气体不会发生回流； 2.9空站：仪器内置一个与样品管等体积的空站，用于系统校正 3、样品前处理及反应系统 3.1配置程序升温高温炉，八角式贝壳开合炉体，配合升降滑轨，反应床可轻松装卸； 3.2高温炉温度范围：室温至1200℃，温度精度0.1℃，线性程序升温，温度控制采用“床温”和“炉温”双重控制。可选配低温组件，可提供最低温度至-130℃的分析温度，可实现低温组件与高温炉之间的无缝对接，软件自动切换； 3.3升温速率：常温~500℃：最高升温速率50℃/min；500℃~1200℃：最高升温速率30℃/min； ★3.4反应床和高温炉共配置三个热电偶，三点测温，高温炉具有超温断电保护功能。床层热电偶可实时读取和记录床层温度，也可控制升温速率； 3.5 配有“自动空冷组件”可使高温炉降温更迅速，减少实验； ▲3.6多种型号反应床如1/4”U型、1/2”泡型、3/8”泡型、BET专用等可供用户选择配置，根据装样量不同选用不同型号，可减小系统死体积； 3.7 样品管的下游配有专用冷肼，内装填满干燥剂，用于在流经TCD之前除去可冷凝物。 3.8 样品装填量：0.1~1g 4、检测系统 ★4.1热导池TCD结构设计，参比测量双气路串联式热导池，4根热导丝设计，高灵敏铼钨合金灯丝，具有高分辨率、高线性度、高准确性和稳定性的优势；配置有安全防干烧系统。 4.2热导检测器灵敏度：≤0.1μV； 4.3 TCD尾气出口标配质谱检测器连接接口，接口尺寸≤1/16英寸； 5、软件控制及分析系统 5.1可视化操作软件系统，可实时显示气体种类、气体流量及流向、阀门开关状态、程序升温速率、实时温度等参数信息； 5.2用户可灵活选择或编辑TPD、TPO、TPR、TPSR、脉冲化学吸附、定量环校准实验等程序，可设置不少于33个程序； 5.3 软件自动记录实验过程中所有参数的变化，包括流量、温度、阀的切换、检测器数据等等； ★5.4 数据处理软件能完成信号峰的拟合、分峰、积分、微分和叠加处理，从而获取样品的特征信息，包括催化剂的表面特征、表面酸性／碱性位点分布、活化能、反应动力学数据等； ▲5.5 软件可实现多种安全保护机制设置：化学反应测试全程进行所有温度监控并记录，对气体流速全程监控并记录，内置安全报警软件，内置温度安全限制(TSL)用户自定义设置功能，等等。 6．与化学吸附仪联用的检测器（2套） 6.1涡轮分子泵组，内置无油前级泵； 6.2四极杆分析器、法拉第杯检测器、通道倍增器； 6.3分子量扫描范围：0-100amu； 6.4进样方式：石英玻璃毛细管采样，保温温度最大200℃； 6.5软件：质谱专用控制软件：气体定性定量分析和谱图检索，24 h以上连续数据保存。 7.单台设备供货范围： 7.1化学吸附仪主机1台； 7.2万分之一天平1台； 7.3控制系统：CPU：i5以上；内存≥16G；硬盘≥1T(固态)；显示器≥24寸。

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物理吸附仪

1.测试原理：静态容量法，气体吸附法； 2.测试精度：比表面重复性≤1%； 3.测试气体：氮、氧、氢、氩、氪、二氧化碳、甲烷等非腐蚀性气体； 4.测试范围：比表面积0.0005 m2/g至无上限；孔径分析0.35nm-500nm； ★5.分析站：至少4个，每个分析站独立测试，不能连续或者交替测试，4个分析位共用一个杜瓦瓶，可同时并列进行4个样品的分析；（提供设备证明照片） ★6.恒温夹套：仪器测试过程中共使用至少4个恒温夹套，搭配独有的技术确保测试过程中整个系统的冷自由空间不发生变化，保证分析结果的准确性、重复性和稳定性。 7.杜瓦瓶：大容量高硼硅内胆真空杜瓦瓶，适合液氮、液氩、冰水等各种冷浴，搭配控制技术，保证测试过程中冷自由空间不发生变化，确保测试结果的准确性 ★8.加热脱气系统：配有完全独立的真空脱气系统，提高仪器的测试效率。真空脱气系统包括4个独立加热包，4套独立温控系统，可进行不同样品、不同温度、不同的真空脱气。 ▲9.防抽飞控制技术：主机设计有可拆卸式防抽飞单元硬件组合，每个分析站设计有1套；控制软件设置有3种防抽飞功能选项，“超细粉末”、“普通”、“颗粒”一键式选择；（提供防抽飞单元硬件实物图，及软件截图证明） 10.压力传感器：每个样品分析站均配置原装进口电容式薄膜压力传感器，确保测试准确性。 ▲11. 分析仪主机配置独立P0测试站，P0管由不锈钢金属直管构成，搭配P0等温夹套稳定控制技术，P0值由独立133KPa压力传感器控制，实现每个P/P0点的实时测试； （提供P0管及P0等温夹套稳定控制技术的实物图证明，及实时测试的数据证明） 12．真空泵：双级旋片式机械真空泵（自动防返油），极限真空度高达6.7*10-2Pa，低噪运行，远低于实验室噪声污染极限。 13.安全防护系统：为保证用户的使用安全，（1）开发出独立运行的安全保护软件，可远程监控仪器的运行状况，当仪器出现压力异常等危险时，自动控制仪器，解除产生危险的异常状况，保护仪器和操作人员的安全。（2）增加杜瓦瓶保护罩，防止仪器运行过程中液氮等低温液体外溅产生危险。 ▲14.运行状态显示系统：仪器前面板上配置状态显示系统，显示仪器的工作原理图，每个阀位增加LED灯指示电磁阀的通断，在实验过程中可直观判断仪器的运行过程，前面板无仪表盘或液晶屏，全部由软件控制；（提供实物图证明） ▲15.测试过程中，通过软件控制界面，可直观观察仪器内部各部位压力变化和阀门状态，工程模式下可通过软件界面手动开关阀门；软件具有Overlay层叠功能，可以对图形进行层叠对比分析；（提供软件截图证明） ★16.样品前处理过程、样品测试过程中均使用密封塞技术，便于样品脱气后的真空密封转移； ▲17.投气方式：至少两种，用户指定P/P0值投气，及用户指定投气量（压力或体积）投气；（提供软件截图证明） ★18.数据处理模型：等温吸脱附曲线；BET比表面积、Langmuir比表面积、t-plot法外表面积；BJH、t-plot、DR、DA、MP、HK、SF、NLDFT法等孔分析模型，其中HK/SF分析模型多达10种及以上、NLDFT/MDFT分析模型多达6种；吸附动力学及吸附热自动计算功能，可进行吸附速率自动计算； 19.单台设备供货范围： 分析仪主机1台， 专用分析软件1套， 脱气机1台， 机械真空泵2台， 液氮杯1套， 液氮面控制专用工具1个， 液氮罐1个， 气体减压表5只， 静态样品管10只， 控制系统：CPU：i5以上；内存≥16G；硬盘≥1T(固态)；显示器≥24寸。